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簡(jiǎn)要描述：快速精確的晶體取向
產(chǎn)品型號(hào)： 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2026-03-03訪 問 量：26產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
晶體是原子的重復(fù)排列模式，這意味著我們從進(jìn)入該晶體的電子/光子的角度所看到的景象取決于我們觀察晶體的角度。視角可以是貫穿整個(gè)晶體的通道，也可以只是材料的頂部三層，因此材料特性會(huì)因角度不同而大相徑庭。要控制好材料特性，就必須控制好晶體取向。
它是離子注入、光刻、外延的重要工藝，也是制造激光或光學(xué)組件的重要工藝。
晶體取向系列基于方位掃描，這是一種智能幾何測(cè)量技術(shù)，用于確定晶體取向。這意味著，我們不僅能在 10 秒內(nèi)測(cè)得主軸的傾斜度，還能測(cè)得所有面內(nèi)方向。此儀器幾乎可以測(cè)量任何形狀的單晶體，如晶圓、晶棒、胚晶和晶錠等。
專為工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì)，如供單晶或晶圓制造商、研究用途使用，也可用于晶圓和其他設(shè)備的質(zhì)量控制，
我們的高精度晶體取向系統(tǒng)可提供簡(jiǎn)單快速的晶體取向測(cè)量，確保為下一步加工步驟提供所需的特性。
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